OPTACOM輪廓粗糙度儀測量原理為直角坐標測量法，即通過X軸、Z1軸傳感器，測繪出被測零件的表面輪廓的坐標點，通過電器組件，將傳感器所測量的坐標點數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔籔C機，軟件對所采集的原始坐標數(shù)據(jù)進行數(shù)學運算處理，標注所需的工程測量項目。
OPTACOM輪廓粗糙度儀采用金剛石測針與被測件接觸掃描，實現(xiàn)被測件表面的坐標軌跡測量，獲得原始數(shù)據(jù)，利用彈性支承結構和電感式傳感器、自編的專用軟件、微電子技術通過計算機最終實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)計算、操作控制、綜合分析、計算、處理，達到粗糙度和輪廓形狀的相關參數(shù)測定，對測定結果進行數(shù)據(jù)和圖像顯示、存儲、打印輸出和發(fā)送。
OPTACOM輪廓粗糙度儀采用光機電算結合達到驅動箱上下有控自動移動，觸針可根據(jù)與被測件的接近程度快速和慢速變化左右移動速度實現(xiàn)接觸定位，按程序操作保證觸針不受沖擊傷害。
OPTACOM輪廓粗糙度儀檢測校正流程：
1.在粗糙度測量畫面中，單擊菜單的“校正”并選擇其中的“校正”，按校正步驟進行校正。
2.選擇探針為“通常使用的探針”→選擇校正方法為“利用標準片校正”→校正條件的標準值設定為標準片上的值3.21um，校正倍率選±128um→將標準片放置在水平調(diào)整臺上→執(zhí)行校正測量條件的設定：單擊“編輯”，選擇“基本條件”，測量速度選0.300mm/s，移動返回速度6.000mm/s，測量長度5λ，單擊濾波器，勾選“使λs有效”，“比”設300，波長設0.8mm，單擊去除形狀，選擇小二乘直線，確定并執(zhí)行測量。
3.移動測針至下圖位置，點擊測量，將測量值與標準塊標識的值進行對比，差值在±5%之內(nèi)即為測針可用。如果大于±5%，需分析測量出的曲線圖（縱橫放大倍率分別為2萬和2千倍），觀察波峰波、谷是否清楚，波峰是否尖銳，否則表示測針磨損或損壞。